PROCEDE DE DETECTION D'UNE VARIATION LOCALE D'INDICE DE REFRACTION D'UN MILIEU DIELECTRIQUE SITUE A LA SURFACE D'UN CAPTEUR OPTIQUE
摘要:
L'invention concerne un procédé de détection d'une variation locale d'indice de réfraction d'un milieu diélectrique (20) situé à la surface d'un capteur optique (100), le capteur optique (100) comportant à cet effet un guide d'onde (F02) comprenant une région (E), dite région active, recouverte d'au moins une couche métallique en contact avec le milieu diélectrique (20), le procédé comprenant les étapes suivantes :
a) émettre un faisceau lumineux en entrée du guide d'onde (F02) de sorte que ce faisceau lumineux puisse se propager, au sein du guide d'onde (F02), selon au moins N modes de propagation où N est un entier naturel tel que N ≥ 2 ;
b) mesurer l'intensité d'au moins une zone de la répartition spatiale de l'intensité du faisceau lumineux réfléchi par ladite région active (E) du capteur optique (100) ; et
c) détecter la variation locale de l'indice de réfraction du milieu diélectrique (20) au moyen d'une base de données fournissant le lien entre l'intensité de ladite au moins une zone de la répartition spatiale de l'intensité du faisceau lumineux réfléchi par la région active (E) du capteur optique (100) et une variation d'indice de réfraction d'un milieu de référence.
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