- 专利标题： EYE-FATIGUE EXAMINING DEVICE AND EYE-FATIGUE EXAMINING METHOD
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申请号： EP17766232.7申请日： 2017-02-20
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公开(公告)号： EP3430976B1公开(公告)日： 2020-03-25
- 发明人: FUJIKADO, Takashi , HIROTA, Masakazu , NISHIDA, Kohji , SAIKA, Makoto , YAMAGUCHI, Tatsuo , MIYAGAWA, Suguru
- 申请人： Osaka University , Topcon Corporation
- 申请人地址： 1-1, Yamadaoka Suita-shi, Osaka 565-0871 JP
- 专利权人： Osaka University,Topcon Corporation
- 当前专利权人： Osaka University,Topcon Corporation
- 当前专利权人地址： 1-1, Yamadaoka Suita-shi, Osaka 565-0871 JP
- 代理机构： Ribeiro, James Michael
- 优先权： JP2016055553 20160318
- 国际公布： WO2017159225 20170921
- 主分类号： A61B3/08
- IPC分类号： A61B3/08 ; A61B3/113 ; A61B3/10
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