DUAL BAND ULTRAVIOLET (UV) AND INFRARED RADIATION DETECTOR

发明公开

EP3520145A1 DUAL BAND ULTRAVIOLET (UV) AND INFRARED RADIATION DETECTOR 审中-公开

专利标题： DUAL BAND ULTRAVIOLET (UV) AND INFRARED RADIATION DETECTOR
申请号： EP17716387.0

申请日： 2017-03-29
公开(公告)号： EP3520145A1

公开(公告)日： 2019-08-07
发明人: BARKER, Delmar, L. , CLARKE, Jeffrey , HICKS, Charles, W. , GREEN, Marguerite J.
申请人： Raytheon Company
申请人地址： 870 Winter Street Waltham, Massachusetts 02451-1449 US
专利权人： Raytheon Company
当前专利权人： Raytheon Company
当前专利权人地址： 870 Winter Street Waltham, Massachusetts 02451-1449 US
代理机构： Jackson, Richard Eric
优先权： US201615278619 20160928
国际公布： WO2018063440 20180405
主分类号： H01L31/0216
IPC分类号： H01L31/0216 ; H01L31/0232 ; H01L31/101 ; H01L31/108

公开/授权文献

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IPC分类:

H	电学
H01	基本电气元件
H01L	半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L31/00	对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或设备；其零部件（H01L51/42优先；由形成在一共用衬底内或其上的多个固态组件，而不是辐射敏感元件与一个或多个电光源的结合所组成的器件入H01L27/00）
H01L31/02	.零部件
H01L31/0216	..涂层（H01L31/041优先）