发明公开
- 专利标题： SCANNING PROBE MICROSCOPY SYSTEM, AND METHOD FOR MOUNTING AND DEMOUNTING A PROBE THEREIN
-
申请号： EP17817275.5申请日： 2017-11-28
-
公开(公告)号： EP3548903A1公开(公告)日： 2019-10-09
- 发明人: SADEGHIAN MARNANI, Hamed , BIJNAGTE, Anton Adriaan , DEKKER, Albert
- 申请人： Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- 申请人地址： Anna van Buerenplein 1 2595 DA 's-Gravenhage NL
- 专利权人： Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- 当前专利权人： Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- 当前专利权人地址： Anna van Buerenplein 1 2595 DA 's-Gravenhage NL
- 代理机构： V.O.
- 优先权： EP16201127 20161129; EP16201131 20161129
- 国际公布： WO2018101819 20180607
- 主分类号： G01Q70/02
- IPC分类号： G01Q70/02
信息查询
