- 专利标题： ARRAYS WITH QUALITY CONTROL TRACERS
-
申请号： EP17883315.8申请日： 2017-12-20
-
公开(公告)号： EP3559262A1公开(公告)日： 2019-10-30
- 发明人: SHIEH, Peyton , BEIERLE, John M. , GRAIGE, Michael S. , FUHRMANN, Alexander , SMITH, Randall , WEI, Wei , ZHAN, Naiqian
- 申请人： Illumina, Inc.
- 申请人地址： 5200 Illumina Way San Diego, CA 92122 US
- 专利权人： Illumina, Inc.
- 当前专利权人： Illumina, Inc.
- 当前专利权人地址： 5200 Illumina Way San Diego, CA 92122 US
- 代理机构： Murgitroyd & Company
- 优先权： US201662438284P 20161222
- 国际公布： WO2018119063 20180628
- 主分类号： C12Q1/68
- IPC分类号： C12Q1/68 ; B01J19/00
信息查询
