- 专利标题： PARTICLE MEASURING DEVICE AND PARTICLE MEASURING METHOD
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申请号： EP18783731.5申请日： 2018-03-30
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公开(公告)号： EP3611492B1公开(公告)日： 2023-10-04
- 发明人: KONDO, Kaoru , TABUCHI, Takuya , BANDO, Kazuna , KATO, Haruhisa , MATSUURA, Yusuke
- 专利权人： RION Co., Ltd.,NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY
- 当前专利权人： RION Co., Ltd.,NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY
- 当前专利权人地址： 20-41, Higashi-Motomachi 3-chome Kokubunji-shi Tokyo 185-8533 JP; 3-1 Kasumigaseki 1-chome Chiyoda-ku Tokyo 100-8921 JP
- 代理机构： Dennemeyer & Associates S.A.
- 优先权： JP2018043634 20180309
- 国际公布： WO2018190162 20181018
- 主分类号： G01N15/02
- IPC分类号： G01N15/02 ; G01N21/05 ; G01P3/36 ; G01N15/14
公开/授权文献
- EP3611492A1 PARTICLE MEASURING DEVICE AND PARTICLE MEASURING METHOD 公开/授权日：2020-02-19
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