- 专利标题： IMPROVED GEOMETRY MEASUREMENTS IN X-RAY IMAGE
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申请号： EP18727705.8申请日： 2018-05-14
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公开(公告)号： EP3624692A1公开(公告)日： 2020-03-25
- 发明人: MAACK, Hanns-Ingo , MENSER, Bernd , MENTRUP, Detlef
- 申请人： Koninklijke Philips N.V.
- 申请人地址： High Tech Campus 52 5656 AG Eindhoven NL
- 专利权人： Koninklijke Philips N.V.
- 当前专利权人： Koninklijke Philips N.V.
- 当前专利权人地址： High Tech Campus 52 5656 AG Eindhoven NL
- 代理机构： Philips Intellectual Property & Standards
- 优先权： EP17171878 20170519
- 国际公布： WO2018210773 20181122
- 主分类号： A61B6/00
- IPC分类号： A61B6/00 ; G06T7/00 ; G06T7/60
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