- 专利标题： IMPROVED SYSTEM FOR ELECTRON DIFFRACTION ANALYSIS
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申请号： EP18782159.0申请日： 2018-09-28
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公开(公告)号： EP3688785B1公开(公告)日： 2024-07-24
- 专利权人： Oxford Instruments Nanotechnology Tools Limited
- 当前专利权人： Oxford Instruments Nanotechnology Tools Limited
- 当前专利权人地址： Tubney Woods
- 代理机构： Gill Jennings & Every LLP
- 优先权： GB 1715902 2017.09.29
- 国际申请： GB2018052766 2018.09.28
- 国际公布： WO2019064013 2019.04.04
- 主分类号： H01J37/22
- IPC分类号： H01J37/22 ; H01J37/244 ; H01J37/295
公开/授权文献
- EP3688785A1 IMPROVED SYSTEM FOR ELECTRON DIFFRACTION ANALYSIS 公开/授权日：2020-08-05
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