- 专利标题： METHOD OF PERFORMING ATOMIC FORCE MICROSCOPY
-
申请号： EP18812390.5申请日： 2018-11-02
-
公开(公告)号： EP3704494A1公开(公告)日： 2020-09-09
- 发明人: VAN RIEL, Martinus Cornelius Johannes Maria , VAN NEER, Paul Louis Maria Joseph , SADEGHIAN MARNANI, Hamed , VAN ES, Maarten Hubertus
- 申请人： Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
- 申请人地址： Anna van Buerenplein 1 2595 DA 's-Gravenhage NL
- 专利权人： Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
- 当前专利权人： Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
- 当前专利权人地址： Anna van Buerenplein 1 2595 DA 's-Gravenhage NL
- 代理机构： V.O.
- 优先权： EP17200014 20171103
- 国际公布： WO2019088841 20190509
- 主分类号： G01Q60/32
- IPC分类号： G01Q60/32 ; G01N29/06 ; G01Q30/14
公开/授权文献
- EP3704494B1 METHOD OF PERFORMING ATOMIC FORCE MICROSCOPY 公开/授权日：2023-01-04
信息查询
