- 专利标题： DYNAMIC DETECTION OF LAYER THICKNESS FOR AN ADDITIVE MANUFACTURING PROCESS
-
申请号： EP18815358.9申请日： 2018-11-14
-
公开(公告)号： EP3710181B1公开(公告)日： 2023-05-31
- 发明人: SHEINMAN, Yehoshua , HIRSCH, Shai , SHAHAR, Almog
- 专利权人： Stratasys Ltd.
- 当前专利权人： Stratasys Ltd.
- 当前专利权人地址： 1 Holtzman Street Science Park P.O. Box 2496 7612401 Rehovot IL
- 代理机构： Michalski Hüttermann & Partner Patentanwälte mbB
- 优先权： US201762585564 P 20171114
- 国际公布： WO2019097512 20190523
- 主分类号： B22F3/02
- IPC分类号： B22F3/02 ; B22F3/18 ; B22F10/10 ; B22F10/85 ; B22F12/33 ; B22F12/60 ; B22F12/90 ; B29C64/165 ; B29C64/205 ; B29C64/393 ; B33Y10/00 ; B33Y30/00 ; B33Y50/02 ; B22F5/10 ; B22F10/64 ; B22F12/63
公开/授权文献
信息查询
