- 专利标题： VERFAHREN ZUM KALIBRIEREN EINER VORRICHTUNG ZUM MESSEN EINES PROZESSWERTS MINDESTENS EINES STOFFES, VERFAHREN ZUM MESSEN EINES PROZESSWERTS MINDESTENS EINES STOFFES MITTELS EINER VORRICHTUNG UND SYSTEM
- 专利标题（英）： METHOD FOR CALIBRATING A DEVICE FOR MEASURING A PROCESS VALUE OF AT LEAST ONE SUBSTANCE, METHOD FOR MEASURING A PROCESS VALUE OF AT LEAST ONE SUBSTANCE BY MEANS OF A DEVICE AND SYSTEM
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申请号： EP20179377.5申请日： 2020-06-10
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公开(公告)号： EP3922962A1公开(公告)日： 2021-12-15
- 发明人: Müller, Dr. Steffen
- 申请人： Berthold Technologies GmbH & Co. KG
- 申请人地址： DE 75323 Bad Wildbad Calmbacher Strasse 22
- 代理机构： Patentanwälte Ruff, Wilhelm, Beier, Dauster & Partner mbB
- 主分类号： G01F23/288
- IPC分类号： G01F23/288 ; G01F25/00 ; G01N9/24
摘要：
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Kalibrieren einer Vorrichtung (1) zum Messen eines Prozesswerts (PW) mindestens eines Stoffes (ST),
- wobei die Vorrichtung (1) eine Detektoreinrichtung (2) aufweist, wobei die Detektoreinrichtung (2) zum Messen eines Detektorwerts (DW) mittels Erfassens mindestens von Gammastrahlen (GR), wobei die Gammastrahlen (GR) mindestens den Stoff (ST) mindestens teilweise durchdrungen und dabei gestreut haben, und Erzeugens des Detektorwerts (DW) basierend auf den erfassten Gammastrahlen (GR) ausgebildet ist,
- wobei das Verfahren den Schritt aufweist: Berechnen einer Kalibrierzuordnung (KT) mindestens mittels Simulierens des Durchdringens und dabei modellierend die Streuung (SC) der Gammastrahlen (GR), wobei die Kalibrierzuordnung (KT) verschiedenen Prozesswerten (PW) jeweils einen Detektorwert (DW) zuordnet.
- wobei die Vorrichtung (1) eine Detektoreinrichtung (2) aufweist, wobei die Detektoreinrichtung (2) zum Messen eines Detektorwerts (DW) mittels Erfassens mindestens von Gammastrahlen (GR), wobei die Gammastrahlen (GR) mindestens den Stoff (ST) mindestens teilweise durchdrungen und dabei gestreut haben, und Erzeugens des Detektorwerts (DW) basierend auf den erfassten Gammastrahlen (GR) ausgebildet ist,
- wobei das Verfahren den Schritt aufweist: Berechnen einer Kalibrierzuordnung (KT) mindestens mittels Simulierens des Durchdringens und dabei modellierend die Streuung (SC) der Gammastrahlen (GR), wobei die Kalibrierzuordnung (KT) verschiedenen Prozesswerten (PW) jeweils einen Detektorwert (DW) zuordnet.
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