- 专利标题： OBSERVATION METHOD BY MEANS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND PROGRAM
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申请号： EP20885208.7申请日： 2020-06-11
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公开(公告)号： EP4057320B1公开(公告)日： 2024-07-24
- 专利权人： The University of Tokyo
- 当前专利权人： The University of Tokyo
- 当前专利权人地址： 3-1 Hongo 7-chome
- 代理机构： Bandpay & Greuter
- 优先权： JP 19203552 2019.11.08
- 国际申请： JP2020023022 2020.06.11
- 国际公布： WO2021090528 2021.05.14
- 主分类号： H01J37/22
- IPC分类号： H01J37/22 ; H01J37/244 ; H01J37/28
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