- 专利标题： METHOD OF AND SYSTEM FOR DETECTING AND/OR MONITORING THE GROWTH OF DEFECTS
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申请号： EP22722174.4申请日： 2022-04-08
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公开(公告)号： EP4189379B1公开(公告)日： 2024-11-13
- 发明人: BAAS, Olivier Constant Orestes
- 专利权人： Villari Holding B.V.
- 当前专利权人： Villari Holding B.V.
- 当前专利权人地址： Molengraaffsingel 12 2629 JD Delft NL
- 代理机构： De Vries & Metman
- 优先权： EP21167728 20210409
- 国际公布： WO2022214694 20221013
- 主分类号： G01N27/87
- IPC分类号： G01N27/87
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