- 专利标题： METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING NON-LOCAL CONDUCTANCE
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申请号： EP21700566.9申请日： 2021-01-13
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公开(公告)号： EP4278388A1公开(公告)日： 2023-11-22
- 发明人: VAITIEKENAS, Saulius , CASPARIS, Lucas , HANSEN, Esben, Bork , MARTINEZ, Esteban, Adrian
- 申请人： Microsoft Technology Licensing, LLC
- 申请人地址： US Redmond, WA 98052-6399 One Microsoft Way
- 代理机构： Page White Farrer
- 国际公布： WO2022152373 20220721
- 主分类号： H01L39/22
- IPC分类号： H01L39/22 ; H01L39/24
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