• 专利标题: PROCEDE DE FABRICATION D'UNE STRUCTURE SEMI-CONDUCTRICE A BASE DE CARBURE DE SILICIUM ET STRUCTURE COMPOSITE INTERMEDIAIRE
  • 专利标题(英): METHOD FOR MANUFACTURING A SILICON-CARBIDE-BASED SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND INTERMEDIATE COMPOSITE STRUCTURE
  • 申请号: EP22712959.0
    申请日: 2022-03-03
  • 公开(公告)号: EP4305660A1
    公开(公告)日: 2024-01-17
  • 发明人: BIARD, HugoGAUDIN, Gweltaz
  • 申请人: SOITEC
  • 申请人地址: FR 38190 Bernin Parc Technologique des Fontaines Chemin des Franques
  • 代理机构: IP Trust
  • 优先权: FR2102307 20210309
  • 国际公布: WO2022189733 20220915
  • 主分类号: H01L21/02
  • IPC分类号: H01L21/02
PROCEDE DE FABRICATION D'UNE STRUCTURE SEMI-CONDUCTRICE A BASE DE CARBURE DE SILICIUM ET STRUCTURE COMPOSITE INTERMEDIAIRE
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