- 专利标题： DEFECT DETECTION METHOD AND APPARATUS
-
申请号： EP22871101.6申请日： 2022-06-30
-
公开(公告)号： EP4322106B8公开(公告)日： 2024-10-23
- 发明人: JIANG, Guannan , SHU, Annan , HUANG, Qiangwei
- 专利权人： Contemporary Amperex Technology (Hong Kong) Limited
- 当前专利权人： Contemporary Amperex Technology (Hong Kong) Limited
- 当前专利权人地址： Level 19, China Building 29 Queen's Road Central Central, Central And Western District HK
- 代理机构： von Tietzen und Hennig, Nikolaus
- 国际公布： WO2024000372 20240104
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06N3/045
公开/授权文献
- EP4322106B1 DEFECT DETECTION METHOD AND APPARATUS 公开/授权日：2024-09-11
信息查询
