- 专利标题： SYSTEMS AND METHODS FOR IDENTIFYING MICROBIAL SIGNATURES
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申请号： EP22834010.5申请日： 2022-06-27
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公开(公告)号： EP4363603A1公开(公告)日： 2024-05-08
- 发明人: JAIN, Suneer , PHAN, Joann Lieu , NAIR, Divya Balachandran , MONTAGNE, Thibaut
- 申请人： Sun Genomics Inc.
- 申请人地址： US San Diego, CA 92122 5151 Shoreham Pl, Suite 105
- 专利权人： Sun Genomics Inc.
- 当前专利权人： Sun Genomics Inc.
- 当前专利权人地址： US San Diego, CA 92122 5151 Shoreham Pl, Suite 105
- 代理机构： Hadfield, Andrea
- 优先权： US 202163215845 P 2021.06.28
- 国际申请： US2022035173 2022.06.27
- 国际公布： WO2023278352 2023.01.05
- 主分类号： C12Q1/68
- IPC分类号： C12Q1/68 ; G16B20/00 ; G16B30/00
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