- 专利标题： INSPECTION SYSTEM FOR A BLISTER MACHINE
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申请号： EP22840705.2申请日： 2022-12-20
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公开(公告)号： EP4433988A1公开(公告)日： 2024-09-25
- 发明人: DIETRICH, Stephan
- 申请人： ALLTEC ANGEWANDTE LASERLICHT TECHNOLOGIE GMBH
- 申请人地址： DE 23923 Selmsdorf An Der Trave 27-31
- 专利权人： ALLTEC ANGEWANDTE LASERLICHT TECHNOLOGIE GMBH
- 当前专利权人： ALLTEC ANGEWANDTE LASERLICHT TECHNOLOGIE GMBH
- 当前专利权人地址： DE 23923 Selmsdorf An Der Trave 27-31
- 代理机构： Marks & Clerk LLP
- 优先权： GB 2118737 2021.12.22
- 国际申请： EP2022086958 2022.12.20
- 国际公布： WO2023118119 2023.06.29
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06T7/90 ; G06T7/60 ; B65B57/00 ; G01N21/95
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