• Patent Title: 測定方法及び測定装置
  • Patent Title (English): MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE
  • Application No.: JP2014192154
    Application Date: 2014-09-22
  • Publication No.: JP2015092152A
    Publication Date: 2015-05-14
  • Inventor: NISHIDA NOBUYUKI
  • Applicant: TOPCON CORP
  • Assignee: TOPCON CORP
  • Current Assignee: TOPCON CORP
  • Priority: JP2013206665 2013-10-01
  • Main IPC: G01C15/00
  • IPC: G01C15/00
測定方法及び測定装置
Abstract:
【課題】近距離から遠距離迄の広範囲に亘ってティーチング作業を行える測定方法及び測定装置を提供する。【解決手段】測定対象物を視準する望遠鏡部2と、測距光を照射し測定対象物迄の距離を測定する測距部と、視準光を照射し視準方向のデジタル画像を取得する撮像部と、視準方向の方向角を検出する角度検出部と、自動視準させる自動視準部とを有する測定装置1により複数の測定対象物のモニタリング測定に於いて、サーチ範囲を設定する工程と、視準光の光量を近距離用と遠距離用に切替える光量切替え工程と、近距離用光量にて近距離に位置する測定対象物について粗測定を行う近距離サーチ工程と、遠距離用光量にて遠距離に位置する測定対象物について粗測定する遠距離サーチ工程と、近距離サーチの粗測定結果と遠距離サーチの粗測定結果とに基づき全測定対象物について自動視準し、各測定対象物を測距、測角する精密測定工程とを具備する。【選択図】図1
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