发明专利
- 专利标题: 構造物解析装置、構造物解析システムおよび構造物解析方法
- 专利标题(英): JP2018159631A - Structure analysis apparatus, the structure analysis system and structures analysis method
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申请号: JP2017057143申请日: 2017-03-23
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公开(公告)号: JP2018159631A公开(公告)日: 2018-10-11
- 发明人: 佐藤 健太 , 武田 和義
- 申请人: セイコーエプソン株式会社
- 申请人地址: 東京都新宿区新宿四丁目1番6号
- 专利权人: セイコーエプソン株式会社
- 当前专利权人: セイコーエプソン株式会社
- 当前专利权人地址: 東京都新宿区新宿四丁目1番6号
- 代理商 渡辺 和昭; 西田 圭介; 仲井 智至
- 主分类号: G01M5/00
- IPC分类号: G01M5/00 ; G01M7/02
摘要:
【課題】振動データの経時変化から地盤もしくは構造物を解析する構造物解析装置、構造 物解析システムおよび構造物解析方法を提供する。 【解決手段】本発明の構造物解析装置70は、地盤もしくは構造物に設置された、第1の 慣性センサーと第2の慣性センサーとの出力を取得する取得部16と、出力を第1の周波 数領域と第2の周波数領域とに分割し、第1の周波数領域において、第1の慣性センサー と第2の慣性センサーとで出力の第1出力比RLを算出し、第2の周波数領域において、 第1の慣性センサーと第2の慣性センサーとで出力の第2出力比RHを算出し、第1出力 比RLと第2出力比RHとの経時変化から地盤もしくは構造物を解析する解析部56と、 を備える。 【選択図】図1
公开/授权文献
- JP6866717B2 構造物解析装置、構造物解析システムおよび構造物解析方法 公开/授权日:2021-04-28
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