- 专利标题： 検品システム、情報収集装置、検品方法、情報収集方法及びプログラム
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申请号： JP2018086829申请日： 2018-04-27
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公开(公告)号： JP2019192106A公开(公告)日： 2019-10-31
- 发明人: 内村 淳 , 高橋 博 , 渡邊 将人
- 申请人： 日本電気株式会社 , NECプラットフォームズ株式会社
- 申请人地址： 東京都港区芝五丁目7番1号
- 专利权人： 日本電気株式会社,NECプラットフォームズ株式会社
- 当前专利权人： 日本電気株式会社,NECプラットフォームズ株式会社
- 当前专利权人地址： 東京都港区芝五丁目7番1号
- 代理商 速水 進治
- 主分类号： G06Q30/06
- IPC分类号： G06Q30/06 ; A47F5/00 ; G06K7/14 ; G06K7/10
摘要：
【課題】本発明は、商品の入荷時に店舗で行われる検品作業を省力化する検品システム、情報収集装置、検品方法、情報収集方法及びプログラムを提供する。 【解決手段】検品システム10は、載置台面側に商品情報が付された商品から商品情報を取得し,画像解析結果から位置情報を取得して対応付ける情報取得部11と、情報取得部11により取得された複数の商品情報に基づいて,入庫情報を生成し,発注情報との照合を行う照合部13と,照合結果を出力する出力部12と、を有する。 【選択図】図4
公开/授权文献
- JP6532116B1 検品システム、情報収集装置、検品方法、情報収集方法及びプログラム 公开/授权日：2019-06-19
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