发明专利
- 专利标题： 検査装置、及び検査方法
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申请号： JP2019060397申请日： 2019-03-27
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公开(公告)号： JP2020162324A公开(公告)日： 2020-10-01
- 发明人: 蛯沢 智也 , 吉永 忠
- 申请人： NECスペーステクノロジー株式会社
- 申请人地址： 東京都府中市日新町一丁目10番地
- 专利权人： NECスペーステクノロジー株式会社
- 当前专利权人： NECスペーステクノロジー株式会社
- 当前专利权人地址： 東京都府中市日新町一丁目10番地
- 代理商 棚井 澄雄; 森 隆一郎; 松沼 泰史; 伊藤 英輔
- 主分类号： H02S50/15
- IPC分类号： H02S50/15 ; H02S50/10
摘要：
【課題】1台の検査装置でEL検査とIR検査との両方を実施することができる。 【解決手段】検査装置は、バイパスダイオードが接続された太陽電池に対し、太陽電池が発生する電流と同じ順方向に電流を流し、順方向に電流を流したときの太陽電池の発光状態を示す第1撮像画像を撮像し、第1撮像画像を解析し、順方向に対する逆方向に、太陽電池に対し電流を流し、逆方向に電流を流したときの太陽電池の温度を示す第2撮像画像を撮像し、第2撮像画像を解析する。 【選択図】図1
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