Invention Patent
- Patent Title: 原子ジャイロスコープ、原子干渉計
- Patent Title (English): ATOMIC GYROSCOPE AND ATOM INTERFEROMETER
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Application No.: JP2019234570Application Date: 2019-12-25
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Publication No.: JP2021103128APublication Date: 2021-07-15
- Inventor: 井上 遼太郎 , 上妻 幹旺 , 田中 敦史
- Applicant: 日本航空電子工業株式会社 , 国立大学法人東京工業大学
- Applicant Address: 東京都渋谷区道玄坂一丁目21番1号
- Assignee: 日本航空電子工業株式会社,国立大学法人東京工業大学
- Current Assignee: 日本航空電子工業株式会社,国立大学法人東京工業大学
- Current Assignee Address: 東京都渋谷区道玄坂一丁目21番1号
- Agent 中尾 直樹; 中村 幸雄; 義村 宗洋
- Main IPC: G02F1/11
- IPC: G02F1/11 ; G02F2/02 ; G01P15/00 ; G01C19/58

Abstract:
【課題】小型の原子干渉計を提供する。 【解決手段】原子干渉計500は、第1レーザー光が伝播する光ファイバー511x,514xと、光ファイバー511x,514xと接続されており且つ第1レーザー光の周波数をシフトする周波数シフター513xと、を含む光学変調装置510xを含み、光学変調装置510xからの第1レーザー光および光学変調装置510xからの第1レーザー光と対向するもう一つの第2レーザー光から進行光定在波を生成する光学システム300と、原子線100aと3個以上の進行光定在波200a,200b、200cが相互作用する干渉システム200を含む。 【選択図】図3
Public/Granted literature
- JP6818332B1 原子ジャイロスコープ、原子干渉計 Public/Granted day:2021-01-20
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