Invention Patent JP5618462B2 書込まれたデータ値に基づいてデータを選択的に検証するデータ検証方法及び半導体メモリ装置 有权 Title translation: 数据验证方法和半导体存储器件选择性地验证基于该写入的数据值的数据 Basic information Please log in to see more content Basic information Please log in to see more content 書込まれたデータ値に基づいてデータを選択的に検証するデータ検証方法及び半導体メモリ装置 Patent Title: 書込まれたデータ値に基づいてデータを選択的に検証するデータ検証方法及び半導体メモリ装置 Patent Title (中): 数据验证方法和半导体存储器件选择性地验证基于该写入的数据值的数据 Application No.: JP2008011976 Application Date: 2008-01-22 Publication No.: JP5618462B2 Publication Date: 2014-11-05 Priority: KR20070007245 2007-01-23 Main IPC: G11C16/02 IPC: G11C16/02 Public/Granted literature JP2008181644A Data verification method and semiconductor memory device for selectively verifying data on the basis of written data value Public/Granted day:2008-08-07 Information query Espacenet IPC分类: G 物理 G11 信息存储 G11C 静态存储器（半导体存储器件入H01L，如H01L27/108-H01L27/11597） G11C16/00 可擦除可编程序只读存储器（G11C14/00优先） G11C16/02 .电可编程序的
