Invention Patent
JP6059148B2 活性酸素量測定装置、活性酸素表面処理装置、活性酸素量測定方法および活性酸素表面処理方法
有权
活性氧测量设备中，活性氧的表面处理装置中，所述活性氧的量的测定方法和活性氧的表面处理方法的量
- Patent Title: 活性酸素量測定装置、活性酸素表面処理装置、活性酸素量測定方法および活性酸素表面処理方法
- Patent Title (English): Amount of active oxygen measuring device, active oxygen surface treatment equipment, the amount of active oxygen measurement methods and active oxygen surface treatment method
- Patent Title (中): 活性氧测量设备中，活性氧的表面处理装置中，所述活性氧的量的测定方法和活性氧的表面处理方法的量
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Application No.: JP2013532438Application Date: 2012-09-04
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Publication No.: JP6059148B2Publication Date: 2017-01-11
- Inventor: 野田 和俊 , 岩森 暁 , 木下 忍 , 岩崎 達行 , 吉野 潔 , 松本 裕之
- Applicant: 国立研究開発法人産業技術総合研究所 , 学校法人東海大学 , 岩崎電気株式会社
- Applicant Address: 東京都千代田区霞が関1−3−1
- Assignee: 国立研究開発法人産業技術総合研究所,学校法人東海大学,岩崎電気株式会社
- Current Assignee: 国立研究開発法人産業技術総合研究所,学校法人東海大学,岩崎電気株式会社
- Current Assignee Address: 東京都千代田区霞が関1−3−1
- Agent 岡部 讓; 吉澤 弘司
- Priority: JP2011192840 2011-09-05
- International Application: JP2012005594 JP 2012-09-04
- International Announcement: WO2013035304 JP 2013-03-14
- Main IPC: B01J19/08
- IPC: B01J19/08 ; B01J19/12 ; G01N5/02
Public/Granted literature
- JPWO2013035304A1 活性酸素量測定装置、活性酸素表面処理装置、活性酸素量測定方法および活性酸素表面処理方法 Public/Granted day:2015-03-23
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