发明专利
- 专利标题： 測定システム及び測定方法
- 专利标题（英）： JP6243223B2 - Measurement systems and measurement methods
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申请号： JP2013270041申请日： 2013-12-26
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公开(公告)号： JP6243223B2公开(公告)日： 2017-12-06
- 发明人: 稲垣 智裕
- 申请人： 京セラ株式会社
- 申请人地址： 京都府京都市伏見区竹田鳥羽殿町6番地
- 专利权人： 京セラ株式会社
- 当前专利权人： 京セラ株式会社
- 当前专利权人地址： 京都府京都市伏見区竹田鳥羽殿町6番地
- 主分类号： G01H17/00
- IPC分类号： G01H17/00 ; H04M1/24 ; H04R29/00
公开/授权文献
- JP2015126408A 測定システム及び測定方法 公开/授权日：2015-07-06
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