Invention Patent
- Patent Title: テストシステム、試験装置
- Patent Title (English): JP6307099B2 - Test systems, test equipment
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Application No.: JP2016025991Application Date: 2016-02-15
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Publication No.: JP6307099B2Publication Date: 2018-04-04
- Inventor: 小杉 真章 , 大黒 貴司 , 坂本 満祐 , 藤井 俊朗 , 本間 尚宏 , 大森 秀人
- Applicant: 株式会社アドバンテスト
- Applicant Address: 東京都練馬区旭町1丁目32番1号
- Assignee: 株式会社アドバンテスト
- Current Assignee: 株式会社アドバンテスト
- Current Assignee Address: 東京都練馬区旭町1丁目32番1号
- Agent 森下 賢樹; 村田 雄祐; 三木 友由; 真家 大樹
- Priority: US14/827,743 2015-08-17
- Main IPC: G11C29/56
- IPC: G11C29/56 ; G01R31/28
Public/Granted literature
- JP2017040639A テストシステム、試験装置 Public/Granted day:2017-02-23
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