发明专利
- 专利标题: 半導体装置用ボンディングワイヤ
- 专利标题(英): JP6321297B2 - Bonding wires for semiconductor device
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申请号: JP2017525235申请日: 2016-06-14
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公开(公告)号: JP6321297B2公开(公告)日: 2018-05-09
- 发明人: 山田 隆 , 小田 大造 , 榛原 照男 , 大石 良 , 齋藤 和之 , 宇野 智裕
- 申请人: 日鉄住金マイクロメタル株式会社 , 新日鉄住金マテリアルズ株式会社
- 申请人地址: 埼玉県入間市大字狭山ヶ原158番地1
- 专利权人: 日鉄住金マイクロメタル株式会社,新日鉄住金マテリアルズ株式会社
- 当前专利权人: 日鉄住金マイクロメタル株式会社,新日鉄住金マテリアルズ株式会社
- 当前专利权人地址: 埼玉県入間市大字狭山ヶ原158番地1
- 代理商 特許業務法人酒井国際特許事務所
- 优先权: JPPCT/JP2015/070861 2015-07-22 JP2015120509 2015-06-15
- 国际申请: JP2016067624 JP 2016-06-14
- 国际公布: WO2016204138 JP 2016-12-22
- 主分类号: H01L21/60
- IPC分类号: H01L21/60
公开/授权文献
- JPWO2016204138A1 半導体装置用ボンディングワイヤ 公开/授权日:2017-09-14
信息查询
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