- 专利标题: 기판 내에 리세스들을 형성하기 위한 더미 핀 에칭
- 专利标题(英): KR101911629B1 - Dummy fin etch to form recesses in substrate
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申请号: KR1020170038595申请日: 2017-03-27
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公开(公告)号: KR101911629B1公开(公告)日: 2018-10-24
- 发明人: 콴완춘 , 리아오치텅 , 치우이웨이 , 웡쯔찬
- 申请人: 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드
- 申请人地址: No. *, Li-Hsin Road *, Hsinchu Science Park, Hsinchu, Taiwan
- 专利权人: 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드
- 当前专利权人: 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드
- 当前专利权人地址: No. *, Li-Hsin Road *, Hsinchu Science Park, Hsinchu, Taiwan
- 代理商 김태홍; 김진회
- 优先权: US62/368,583 2016-07-29; US15/399,237 2017-01-05
- 主分类号: H01L29/78
- IPC分类号: H01L29/78 ; H01L29/66
摘要:
집적회로구조물은, 복수의반도체스트립들을갖는반도체기판, 복수의반도체스트립들중 2개의인접해있는반도체스트립들에의해형성되는제 1 리세스, 제 1 리세스내에형성되는제 2 리세스, 및제 1 리세스와제 2 리세스내에제공되는격리영역을포함한다. 제 2 리세스는제 1 리세스보다낮은깊이를갖는다.
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