发明专利
TW201137791A 根據L1距離測量以測量局部影像類似性之方法 A METHOD TO MEASURE LOCAL IMAGE SIMILARITY BASED ON THE L1 DISTANCE MEASURE
审中-公开
根据L1距离测量以测量局部影像类似性之方法 A METHOD TO MEASURE LOCAL IMAGE SIMILARITY BASED ON THE L1 DISTANCE MEASURE
- 专利标题: 根據L1距離測量以測量局部影像類似性之方法 A METHOD TO MEASURE LOCAL IMAGE SIMILARITY BASED ON THE L1 DISTANCE MEASURE
- 专利标题(英): A method to measure local image similarity based on the L1 distance measure
- 专利标题(中): 根据L1距离测量以测量局部影像类似性之方法 A METHOD TO MEASURE LOCAL IMAGE SIMILARITY BASED ON THE L1 DISTANCE MEASURE
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申请号: TW099127296申请日: 2010-08-16
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公开(公告)号: TW201137791A公开(公告)日: 2011-11-01
- 发明人: 巴凱 法爾漢 , 西尾研一 , 董曉剛 , 松下伸行 , 松井啟 , 高取城
- 申请人: 新力股份有限公司 , 新力電機股份有限公司
- 申请人地址: SONY CORPORATION 日本 JP; SONY ELECTRONICS, INC. 美國 US
- 专利权人: 新力股份有限公司,新力電機股份有限公司
- 当前专利权人: 新力股份有限公司,新力電機股份有限公司
- 当前专利权人地址: SONY CORPORATION 日本 JP; SONY ELECTRONICS, INC. 美國 US
- 代理商 林志剛
- 优先权: 美國 12/567,454 20090925
- 主分类号: G06T
- IPC分类号: G06T
摘要:
本發明說明了一種基於L1距離測量之適應性局部影像類似性測量方法。將各距離測量間之一關係用來估計各種區塊大小之適當的臨界値。對區塊大小之選擇係取決於影像中所含的劣化、以及應用。使用各種區塊大小的L1距離之分佈而建立該等類似性測量間之關係。針對較大的劣化而採用具有較大的區塊大小之類似性測量。對於較小的瑕疵而言,較小的區塊大小將產生可接受的結果。為了保持計算負擔的可管理性,採用可提供所需影像品質的最小區塊大小。
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