Invention Patent
TW201250882A 矽晶圓上的直通矽穿孔的製造 FABRICATION OF THROUGH-SILICON VIAS ON SILICON WAFERS
审中-公开
硅晶圆上的直通硅穿孔的制造 FABRICATION OF THROUGH-SILICON VIAS ON SILICON WAFERS
- Patent Title: 矽晶圓上的直通矽穿孔的製造 FABRICATION OF THROUGH-SILICON VIAS ON SILICON WAFERS
- Patent Title (English): Fabrication of through-silicon vias on silicon wafers
- Patent Title (中): 硅晶圆上的直通硅穿孔的制造 FABRICATION OF THROUGH-SILICON VIAS ON SILICON WAFERS
-
Application No.: TW100145067Application Date: 2011-12-07
-
Publication No.: TW201250882APublication Date: 2012-12-16
- Inventor: 拉札高帕藍納卡拉詹 , 朴智愛 , 亞瑪思萊恩 , 巴特爾夏米克 , 諾瓦克湯瑪斯 , 夏立群 , 金秉憲 , 丁冉 , 巴爾迪諾吉姆 , 那克美荷 , 拉瑪斯瓦密瑟許
- Applicant: 應用材料股份有限公司
- Applicant Address: APPLIED MATERIALS, INC. 美國 US
- Assignee: 應用材料股份有限公司
- Current Assignee: 應用材料股份有限公司
- Current Assignee Address: APPLIED MATERIALS, INC. 美國 US
- Agent 蔡坤財; 李世章
- Priority: 美國 12/977,060 20101222
- Main IPC: H01L
- IPC: H01L
Abstract:
一種直通矽穿孔製造方法包括以下步驟:在矽板中蝕刻複數個直通孔。將氧化物襯沉積在矽板之表面上並且沉積在直通孔之側壁及底壁上。然後,在直通孔中沉積金屬導體。在可與氧化物襯同時使用之另一方案中,將氮化矽鈍化層沉積在基板之矽板之曝露後表面上。
Information query