发明专利
- 专利标题: 在預定的空間中偵測金屬物件之系統、方法及裝置
- 专利标题(英): Systems, methods, and apparatus for detection of metal objects in a predetermined space
- 专利标题(中): 在预定的空间中侦测金属对象之系统、方法及设备
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申请号: TW102125283申请日: 2013-07-15
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公开(公告)号: TW201415064A公开(公告)日: 2014-04-16
- 发明人: 偉德默 漢斯彼得 , WIDMER, HANSPETER , 畢特訥 馬可斯 , BITTNER, MARKUS , 希爾伯 盧卡斯 , SIEBER, LUKAS , 費斯雀 馬歇爾 , FISCHER, MARCEL
- 申请人: 高通公司 , QUALCOMM INCORPORATED
- 专利权人: 高通公司,QUALCOMM INCORPORATED
- 当前专利权人: 高通公司,QUALCOMM INCORPORATED
- 代理商 陳長文
- 优先权: 61/671,498 20120713;13/791,585 20130308
- 主分类号: G01V3/08
- IPC分类号: G01V3/08 ; G01V3/12
摘要:
本發明提供用於偵測外來物件之系統、方法及裝置。在一態樣中,提供一種用於偵測一物件之一存在之裝置。該裝置包括一諧振電路,該諧振電路具有一諧振頻率。該諧振電路包括一感測電路,該感測電路包括一導電結構。該裝置進一步包括一耦合電路,該耦合電路耦合至該感測電路。該裝置進一步包括一偵測電路,該偵測電路係經由該耦合電路而耦合至該感測電路。該偵測電路經組態以回應於偵測取決於該諧振電路正在諧振之一頻率之一測定特性與取決於該諧振電路之該諧振頻率之一對應特性之間的一差而偵測該物件之該存在。該耦合電路經組態以縮減在不存在該物件的情況下由該偵測電路進行的該諧振頻率之一變化。
公开/授权文献
- TWI536035B 在預定的空間中偵測金屬物件之系統、方法及裝置 公开/授权日:2016-06-01
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