Invention Patent
TW201423868A 用於半導體元件之超接面結構及其製程 审中-公开
用于半导体组件之超接面结构及其制程

用於半導體元件之超接面結構及其製程
Abstract:
一種用於半導體元件之超接面結構包含:一矽基板,該矽基板上具有一第一導電型磊晶層;複數之高濃度第二導電型柱,形成於該第一導電型磊晶層內;及複數之低濃度第二導電型側壁,形成於該第一導電型磊晶層內且位於該第二導電型柱之外側面上。該半導體元件為超接面MOSFET、超接面MESFET、超接面Schottky電晶體、超接面IGBT、閘流體(thyristor)、或超接面二極體。
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