Invention Patent
- Patent Title: 半導體上的外來氧化物之製造
- Patent Title (English): Manufacturing of foreign oxide on semiconductor
- Patent Title (中): 半导体上的外来氧化物之制造
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Application No.: TW105105856Application Date: 2016-02-26
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Publication No.: TW201701326APublication Date: 2017-01-01
- Inventor: 庫茲明 米克海爾 , KUZMIN, MIKHAIL , 路克卡南 佩卡 , LAUKKANEN, PEKKA , 穆哈瑪德 亞瑟 , MUHAMMAD, YASIR , 圖米南 瑪朱卡 , TUOMINEN, MARJUKKA , 答爾 約翰 , DAHL, JOHNNY , 圖米南 維寇 , TUOMINEN, VEIKKO , 馬凱拉 賈克寇 , MAKELA, JAAKKO , 龐克奇南 馬寇 , PUNKKINEN, MARKO , 寇克寇 卡雷維 , KOKKO, KALEVI
- Applicant: 圖爾庫大學 , TURUN YLIOPISTO
- Assignee: 圖爾庫大學,TURUN YLIOPISTO
- Current Assignee: 圖爾庫大學,TURUN YLIOPISTO
- Agent 王彥評; 賴碧宏
- Priority: 20155284 20150416;PCT/F12016/050101 20160217
- Main IPC: H01L21/20
- IPC: H01L21/20 ; H01L21/36
Abstract:
一種在半導體的基板(1)上形成外來氧化物或外來氮化物層(6)的方法,包含:提供具有氧化或氮化的表面層(3)的半導體基板(1),將外來元素(5)供應至該氧化或氮化的表面層上;和將該氧化或氮化的表面層(3)保持在升高的溫度下以分別利用原本存在於該氧化或氮化的表面層(3)中的該氧或氮來將該外來元素至少部分地氧化或氮化。
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