Invention Patent
- Patent Title: 半導體裝置
- Patent Title (English): Semiconductor device
- Patent Title (中): 半导体设备
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Application No.: TW106106669Application Date: 2009-07-27
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Publication No.: TW201724528APublication Date: 2017-07-01
- Inventor: 山崎舜平 , YAMAZAKI, SHUNPEI , 宮入秀和 , MIYAIRI, HIDEKAZU , 秋元健吾 , AKIMOTO, KENGO , 白石康次郎 , SHIRAISHI, KOJIRO
- Applicant: 半導體能源研究所股份有限公司 , SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
- Assignee: 半導體能源研究所股份有限公司,SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
- Current Assignee: 半導體能源研究所股份有限公司,SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
- Agent 林志剛
- Priority: 2008-197127 20080731
- Main IPC: H01L29/786
- IPC: H01L29/786 ; H01L21/336 ; H01L27/12
Abstract:
在主動矩陣型顯示裝置中,包含在電路中的薄膜電晶體的電氣特性很重要,且該電氣特性影響到顯示裝置的性能。藉由對反交錯型(inverted staggered)薄膜電晶體使用包含In、Ga及Zn的氧化物半導體膜,可以減少薄膜電晶體之電氣特性的變動。為了解決目的,不接觸於空氣地進行濺射法來連續地形成閘極絕緣膜、氧化物半導體層、通道保護膜的三層。另外,採用在氧化物半導體層中的重疊於通道保護膜的區域的厚度比接觸於導電膜的區域的厚度厚的結構。
Public/Granted literature
- TWI622175B 半導體裝置 Public/Granted day:2018-04-21
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IPC分类: