Invention Patent
TW201801343A 具有穿隧接合層的磊晶結構、p型半導體結構朝上的製程中間結構及其製造方法 审中-公开
具有穿隧接合层的磊晶结构、p型半导体结构朝上的制程中间结构及其制造方法

具有穿隧接合層的磊晶結構、p型半導體結構朝上的製程中間結構及其製造方法
Abstract:
一種具有穿隧接合層的磊晶結構、p型半導體結構朝上的製程中間結構以及其製造方法。磊晶結構由下至上依序包含:基板、第一n型半導體層、穿隧接合層、p型半導體層、多量子井層、以及第二n型半導體層,其中第一n型半導體層、p型半導體層、以及穿隧接合層形成p型半導體結構。p型半導體結構朝上的製程中間結構的製造方法包含:在前述磊晶結構的第二n型半導體層上設置永久性基板,以形成疊層結構;將疊層結構上下翻轉,並移除前述磊晶結構的基板使p型半導體結構朝上。經由該製造方法製作的p型半導體結構朝上的製程中間結構由下至上依序包含:永久性基板、第二n型半導體層、多量子井層、p型半導體結構。其中p型半導體結構包含p型半導體層、穿隧接合層以及第一n型半導體層。
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