Invention Patent
- Patent Title: 鰭式場效電晶體裝置及其形成方法
- Patent Title (English): FINFET DEVICE AND METHODS OF FORMING THE SAME
- Patent Title (中): 鳍式场效应管设备及其形成方法
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Application No.: TW106135926Application Date: 2017-10-19
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Publication No.: TW201820633APublication Date: 2018-06-01
- Inventor: 林育樟 , LIN, YU CHANG , 張添舜 , CHANG, TIEN SHUN , 簡薇庭 , CHIEN, WEI TING , 聶俊峰 , NIEH, CHUN FENG , 張惠政 , CHANG, HUICHENG , 曹志彬 , TSAO, CHIH PIN , 李後儒 , LI, HOU JU
- Applicant: 台灣積體電路製造股份有限公司 , TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
- Applicant Address: 新竹市
- Assignee: 台灣積體電路製造股份有限公司,TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
- Current Assignee: 台灣積體電路製造股份有限公司,TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
- Current Assignee Address: 新竹市
- Agent 洪澄文; 顏錦順
- Priority: 62/427,589 20161129;15/611,599 20170601
- Main IPC: H01L29/78
- IPC: H01L29/78 ; H01L21/336

Abstract:
本揭露提供鰭式場效電晶體裝置及其形成方法。此方法包含:將虛置閘極沿著一鰭狀物的側壁沉積並沉積於上述鰭狀物的側壁的上方,上述鰭狀物從半導體基底向上延伸;沿著上述虛置閘極的側壁形成第一閘極間隔物;以及以碳對上述第一閘極間隔物進行電漿摻雜,以形成摻雜碳的閘極間隔物。此方法還包含形成源/汲極區,上述源/汲極區鄰接上述鰭狀物的通道區;以及使碳從上述摻雜碳的閘極間隔物擴散而進入上述鰭狀物的第一區域,以提供第一摻雜碳的區域,其中上述第一摻雜碳的區域是置於上述源/汲極區的至少一部分與上述鰭狀物的上述通道區之間。
Public/Granted literature
- TWI647851B 鰭式場效電晶體裝置及其形成方法 Public/Granted day:2019-01-11
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