发明专利
TW504804B 半導體裝置及其製造方法 失效
半导体设备及其制造方法

半導體裝置及其製造方法
摘要:
一種半導體裝置特別薄型半導體封裝體,其可降低且同時達到均勻一致的安裝高度,無需複雜的安裝個別晶片之步驟,改善製造良率,達成半導體裝置之一致高度,而不受晶片厚度變化的影響以及可全部一起執行電測試;以及一種製造該種半導體裝置之方法,其中一個半導體其背面暴露向上而安裝於絕緣帶狀基板頂面上,該帶狀基板具有通孔於其厚度方向,半導體元件側面周圍區係藉密封樹脂層密封,形成以帶狀基板底面上的金屬互連層界定帶狀基板之通孔底部,一層其厚度方向有通孔之耐焊層覆蓋金屬互連層及帶狀基板底面,由半導體元件之活性面向下伸展之連結端子插入帶狀基板之通孔內,傳導性材料組成之填料填補連結端子與帶狀基板通孔間之間隙,而將連結端子與金屬互連層電連結。
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