Invention Patent
- Patent Title: 用於偵測開關電晶體之短路故障的電路及方法
- Patent Title (English): Circuit and method for detecting short circuit failure of a switching transistor
- Patent Title (中): 用于侦测开关晶体管之短路故障的电路及方法
-
Application No.: TW104119975Application Date: 2015-06-22
-
Publication No.: TWI580182BPublication Date: 2017-04-21
- Inventor: 梅德尼克 亞歷山大 , MEDNIK, ALEXANDER , 提魯瑪拉 羅希特 , TIRUMALA, ROHIT , 譚 馬克 , TAN, MARC , 克魯格里 西蒙 , KRUGLY, SIMON
- Applicant: 微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INC.
- Assignee: 微晶片科技公司,MICROCHIP TECHNOLOGY INC.
- Current Assignee: 微晶片科技公司,MICROCHIP TECHNOLOGY INC.
- Agent 惲軼群; 陳文郎
- Priority: 62/016,090 20140623;14/743,945 20150618;PCT/US15/36701 20150619
- Main IPC: H03K17/08
- IPC: H03K17/08
Public/Granted literature
- TW201613269A 用於偵測開關電晶體之短路故障的電路及方法 Public/Granted day:2016-04-01
Information query
