- 专利标题： Parameter adjustment for pattern discovery
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申请号： US14398017申请日： 2012-05-30
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公开(公告)号： US10027686B2公开(公告)日： 2018-07-17
- 发明人: Zhipeng Zhao , Yanlin Wang , Anurag Singla
- 申请人： Zhipeng Zhao , Yanlin Wang , Anurag Singla
- 申请人地址： US CA Sunnyvale
- 专利权人： ENTIT SOFTWARE LLC
- 当前专利权人： ENTIT SOFTWARE LLC
- 当前专利权人地址： US CA Sunnyvale
- 国际申请： PCT/US2012/040022 WO 20120530
- 国际公布： WO2013/180708 WO 20131205
- 主分类号： G06F11/00
- IPC分类号： G06F11/00 ; H04L29/06 ; H04L12/26 ; G06F12/14
摘要：
Pattern discovery performed on event data may include selecting an initial set of parameters for the pattern discovery. The parameters may specify conditions for identifying a pattern in the event data. A pattern discovery run is executed on the event data based on the initial set of parameters, and a parameter may be adjusted based on the output of the pattern discovery run.
公开/授权文献
- US20150106922A1 PARAMETER ADJUSTMENT FOR PATTERN DISCOVERY 公开/授权日：2015-04-16
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