- 专利标题： Visualization of analysis process parameters for layout-based checks
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申请号： US14716775申请日： 2015-05-19
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公开(公告)号： US10055533B2公开(公告)日： 2018-08-21
- 发明人: Patrick D Gibson , Farhad T Kharas , I-Shan Chang , MacDonald Hall Jackson, III
- 申请人： Mentor Graphics Corporation
- 申请人地址： US OR Wilsonville
- 专利权人： Mentor Graphics Corporation
- 当前专利权人： Mentor Graphics Corporation
- 当前专利权人地址： US OR Wilsonville
- 代理机构： Klarquist Sparkman, LLP
- 主分类号： G06F17/50
- IPC分类号： G06F17/50
摘要：
Techniques and mechanisms for marking the parameters of a circuit analysis process for visual identification are disclosed. The visually-identified parameters can then be employed with the results of the circuit analysis to debug the layout design.
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