- 专利标题： Multiple offset interferometer
-
申请号： US16336890申请日： 2017-09-29
-
公开(公告)号： US11226588B2公开(公告)日： 2022-01-18
- 发明人: Thomas Engel , Oliver Hayden
- 申请人： Siemens Healthcare GmbH
- 申请人地址： DE Erlangen
- 专利权人： Siemens Healthcare GmbH
- 当前专利权人： Siemens Healthcare GmbH
- 当前专利权人地址： DE Erlangen
- 代理机构： Dugan & Dugan, PC
- 国际申请： PCT/EP2017/074769 WO 20170929
- 国际公布： WO2018/060420 WO 20180405
- 主分类号： G03H1/00
- IPC分类号： G03H1/00 ; G03H1/04 ; G03H1/08 ; G03H1/26 ; G01B9/02 ; G01B9/021 ; G01B9/04 ; G03H1/02
摘要：
The invention relates to a device, such as a digital holographic microscope, for detecting and processing a first full image of a measurement object, measured with a first offset, wherein an arrangement is provided for generating at least one further full image with at least one offset that differs from the first offset.
公开/授权文献
- US20190250560A1 MULTIPLE OFFSET INTERFEROMETER 公开/授权日：2019-08-15
信息查询
