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发明申请
US20060261270A1 Method for preparing a sample for electron microscopic examinations, and sample supports and transport holders used therefor 有权
制备电子显微镜检查样品的方法，以及用于其的样品支架和运输支架

  • 专利标题： Method for preparing a sample for electron microscopic examinations, and sample supports and transport holders used therefor
  • 专利标题（中）： 制备电子显微镜检查样品的方法，以及用于其的样品支架和运输支架
  • 申请号： US11377495
    申请日： 2006-03-16
  • 公开(公告)号： US20060261270A1
    公开(公告)日： 2006-11-23
  • 发明人: Claus Burkhardt , Wilfried Nisch
  • 申请人： Claus Burkhardt , Wilfried Nisch
  • 优先权： DE10344643.5 20030917
  • 主分类号： G21K7/00
  • IPC分类号： G21K7/00
Method for preparing a sample for electron microscopic examinations, and sample supports and transport holders used therefor
摘要：
In a method for preparing a sample for electron microscopic examinations, in particular with a transmission electron microscope (TEM), a) a substrate containing the sample to be prepared on a sample locus is provided in a vacuum chamber, b) a protective layer is applied onto a surface of the sample locus, c) the sample located under the protective layer is separated from the substrate by an ion beam, the protective layer acting as a mask, and d) in the vacuum chamber, the separated sample is removed from the substrate.
摘要（中）：

在用于制备电子显微镜检查样品的方法中，特别是用透射电子显微镜（TEM），a）在真空室中设置包含待样品样品的基板，b）保护层为 施加到样品轨迹的表面上，c）通过离子束将保护层下方的样品与基底分离，保护层作为掩模，d）在真空室中，将分离的样品从 底物。

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