发明申请
US20090003101A1 APPARATUS AND METHOD OF SETTING TEST MODE IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
有权
在半导体集成电路中设置测试模式的装置和方法
- 专利标题： APPARATUS AND METHOD OF SETTING TEST MODE IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
- 专利标题（中）： 在半导体集成电路中设置测试模式的装置和方法
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申请号： US12013866申请日： 2008-01-14
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公开(公告)号： US20090003101A1公开(公告)日： 2009-01-01
- 发明人: Won-Joo Yun , Hyun Woo Lee , Dong-Suk Shin
- 申请人： Won-Joo Yun , Hyun Woo Lee , Dong-Suk Shin
- 申请人地址： KR Ichon
- 专利权人： HYNIX SEMICONDUCTOR, INC.
- 当前专利权人： HYNIX SEMICONDUCTOR, INC.
- 当前专利权人地址： KR Ichon
- 优先权： KR10-2007-0063070 20070626
- 主分类号： G11C29/00
- IPC分类号： G11C29/00
摘要：
An apparatus for setting a test mode in a semiconductor integrated circuit includes a test mode control block that generates a coding control signal according to whether or not a control fuse is cut, and a test mode coding block that sets default values of a multi-bit test code in response to the coding control signal.
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