发明申请
US20120098974A1 OPTICAL METHOD FOR MEASURING HEIGHT OF FLUORESCENT PHOSPHOLIPID FEATURES FABRICATED VIA DIP-PEN NANOLITHOGRAPHY
审中-公开
通过DIP-PEN NANOLITHOGRAPHY测量荧光磷光体特征的光学光学方法
- 专利标题： OPTICAL METHOD FOR MEASURING HEIGHT OF FLUORESCENT PHOSPHOLIPID FEATURES FABRICATED VIA DIP-PEN NANOLITHOGRAPHY
- 专利标题（中）： 通过DIP-PEN NANOLITHOGRAPHY测量荧光磷光体特征的光学光学方法
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申请号： US13234540申请日： 2011-09-16
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公开(公告)号： US20120098974A1公开(公告)日： 2012-04-26
- 发明人: STEVEN LENHERT , Omkar A. Nafday
- 申请人： STEVEN LENHERT , Omkar A. Nafday
- 申请人地址： US FL Tallahassee
- 专利权人： Florida State University Research Foundation
- 当前专利权人： Florida State University Research Foundation
- 当前专利权人地址： US FL Tallahassee
- 主分类号： H04N17/00
- IPC分类号： H04N17/00 ; B05D5/06 ; B32B3/10
摘要：
Described is a calibration standard for determining the height of fluorescent microstructures, methods of using such a calibration standard, and a method of making such a calibration standard.
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