发明申请
- 专利标题： SEMICONDUCTOR APPARATUS AND IMPEDANCE CALIBRATION CIRCUIT FOR THE SAME
- 专利标题（中）： 半导体器件和阻抗校准电路
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申请号： US13219615申请日： 2011-08-27
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公开(公告)号： US20120194215A1公开(公告)日： 2012-08-02
- 发明人: Chang Kyu CHOI
- 申请人： Chang Kyu CHOI
- 申请人地址： KR Icheon-si
- 专利权人： HYNIX SEMICONDUCTOR INC.
- 当前专利权人： HYNIX SEMICONDUCTOR INC.
- 当前专利权人地址： KR Icheon-si
- 优先权： KR10-2011-0009004 20110128
- 主分类号： H03K19/003
- IPC分类号： H03K19/003
摘要：
A semiconductor apparatus includes a data input/output circuit and an impedance calibration circuit. The impedance calibration circuit may be configured to output a code signal for controlling a resistance value of the data input/output circuit in response to a division voltage applied to a joining interconnection directly coupled to a ZQ pad and a preset reference voltage.