发明申请
- 专利标题： Reflection Seismic Data Q Tomography
- 专利标题（中）： 反射地震数据Q层析成像
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申请号： US14437158申请日： 2013-08-30
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公开(公告)号： US20150253444A1公开(公告)日： 2015-09-10
- 发明人: Wenyi Hu , Lorie K. Bear , Hongchuan Sun , Carey M. Marcinkovich
- 申请人： Wenyi HU , Lorie K. BEAR , Hongchuan SUN , Carey M. MARCINKOVICH
- 国际申请： PCT/US2013/057628 WO 20130830
- 主分类号： G01V1/30
- IPC分类号： G01V1/30
摘要：
Method for reconstructing subsurface Q depth profiles from common offset gathers (92) of reflection seismic data by performing migration (40), ray tracing (100), CDP-to-Data Domain surface takeoff angle finding (96, 98), kernel matrix construction (110), depth-to-time conversion and wavelet stretching correction (80), source amplitude spectrum fitting, centroid frequency shift calculation (90), and box-constrained optimization (120).
公开/授权文献
- US10317548B2 Reflection seismic data Q tomography 公开/授权日：2019-06-11
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