发明授权
- 专利标题： Temperature control system for an element analyzer
- 专利标题（中）： 元件分析仪的温度控制系统
-
申请号： US136285申请日： 1980-04-01
-
公开(公告)号： US4339201A公开(公告)日： 1982-07-13
- 发明人: Makoto Yasuda , Seiichi Murayama , Masaru Ito
- 申请人： Makoto Yasuda , Seiichi Murayama , Masaru Ito
- 申请人地址： JPX Tokyo
- 专利权人： Hitachi, Ltd.
- 当前专利权人： Hitachi, Ltd.
- 当前专利权人地址： JPX Tokyo
- 优先权： JPX54-38378 19790402
- 主分类号： G01N21/21
- IPC分类号： G01N21/21 ; G01N21/31 ; G01N21/74 ; G01J3/30
摘要：
Disclosed is a system for controlling the temperature of an atomizer for an element analyzer, said system comprising a birefringent prism arranged on the optical axis of radiant light emitted out of the atomizer, and a light sensor for detecting the radiant light which passes through said birefringent prism.
公开/授权文献
信息查询
