发明授权
- 专利标题： Method for determining surface contour of piezoelectric wafers
- 专利标题（中）： 确定压电晶片表面轮廓的方法
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申请号： US382425申请日： 1982-05-27
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公开(公告)号： US4446432A公开(公告)日： 1984-05-01
- 发明人: Lawrence N. Dworsky , Garth R. Kennedy
- 申请人： Lawrence N. Dworsky , Garth R. Kennedy
- 申请人地址： IL Schaumburg
- 专利权人： Motorola Inc.
- 当前专利权人： Motorola Inc.
- 当前专利权人地址： IL Schaumburg
- 主分类号： G01B7/28
- IPC分类号： G01B7/28 ; G01B7/34 ; G01N27/00
摘要：
A method utilizing a localized electrical field to precisely determine the surface contour of a substantially flat wafer of piezoelectric material having a slight convexity in its opposing faces.
公开/授权文献
- US5589487A Piperidine derivatives and process for their production 公开/授权日：1996-12-31
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