发明授权
- 专利标题： Apparatus and method for spectroscopic analysis of scattering media
- 专利标题（中）： 散射介质光谱分析装置及方法
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申请号： US835641申请日： 1992-02-12
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公开(公告)号： US5303026A公开(公告)日： 1994-04-12
- 发明人: Karlheinz Strobl , Irving J. Bigio , Thomas R. Loree
- 申请人： Karlheinz Strobl , Irving J. Bigio , Thomas R. Loree
- 申请人地址： CA Los Alamos
- 专利权人： The Regents of the University of California Los Alamos National Laboratory
- 当前专利权人： The Regents of the University of California Los Alamos National Laboratory
- 当前专利权人地址： CA Los Alamos
- 主分类号： G01J1/16
- IPC分类号： G01J1/16 ; G01J3/44 ; G01N21/64 ; G01N21/63
摘要：
Apparatus and method for spectroscopic analysis of scattering media. Subtle differences in materials have been found to be detectable from plots of intensity as a function of wavelength of collected emitted and scattered light versus wavelength of excitation light.
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